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信息存储应用技术
  • 一种裁床刀宽检测结构及其检测方法
    一种裁床刀宽检测结构及其检测方法_浙江真辉机电科技有限公司_202610123648.0
    本发明公开了一种裁床刀宽检测结构及其检测方法，包括用于安装裁刀的裁刀保持座以及用于检测裁刀宽度的对射式光电检测系统，所述裁刀保持座的一侧设有配合裁刀的裁刀侧挡板，所述对射式光电检测系统包括：发射器：位于检测区域的一侧，负责发射光束；接收器：...
    2026-04-17
  • 眼盒测量装置和眼盒测量方法
    眼盒测量装置和眼盒测量方法_青岛小鸟看看科技有限公司_202610284164.4
    一种眼盒测量装置和眼盒测量方法。该眼盒测量装置包括光学阵列结构以及探测组件。光学阵列结构包括多个光学结构，探测组件包括探测传感器，探测传感器包括多个像素单元，多个像素单元划分为多个探测区域，各探测区域包括至少两个像素单元，多个光学结构与多个...
    2026-04-17
  • 一种建设期隧道围岩与初期支护变形的自动化监测系统
    一种建设期隧道围岩与初期支护变形的自动化监测系统_南京派光智慧感知信息技术有限公司_202610064126.8
    本发明涉及隧道工程施工监测技术领域，公开了一种建设期隧道围岩与初期支护变形的自动化监测系统，包括布置于稳定区域的图像采集与分析单元、地面基准单元及初支变形监测与辅助照明单元，以及布置于初支区域且包含反光靶标的围岩变形监测单元；所述初支变形监...
    2026-04-17
  • 波像差检测方法和波像差检测装置
    波像差检测方法和波像差检测装置_深圳稳顶聚芯技术有限公司_202511847918.4
    本申请涉及一种波像差检测方法和波像差检测装置，所述波像差检测方法包括：将光源输出的光通过孔阵列板和待测镜头后照射至波前检测模块并产生多个干涉信息；根据所述多个干涉信息，分析得到所述待测镜头的波像差信息；其中，所述孔阵列板设有多个透光孔，所述...
    2026-04-17
  • 一种用于高时延的位置控制方法
    一种用于高时延的位置控制方法_四川中科友成科技有限公司_202512004834.0
    本发明涉及光机控制技术领域，公开了一种用于高时延的位置控制方法，包括在一个控制周期中，采集当前时刻的反馈值和设定值，基于上一控制周期计算出当前时刻的设定值的速度变化率和加速度变化率并计算出前馈输出，基于前馈输出，计算位置误差，进行PI运算消...
    2026-04-17
  • 一种加料控制系统
    一种加料控制系统_迁安市宏奥工贸有限公司_202610074640.X
    本申请涉及物料控制领域，尤其是涉及一种加料控制系统，其包括多尺度检测模块实时获取物料粒度分布及重量数据，抗冲击力传感系统设置于称重斗底部检测冲击并处理，数字孪生融合引擎耦合前两者，自适应控制模块接收其输出信号分级调节 PID 控制参数，执行...
    2026-04-17
  • 基于多触头微反射镜的堆叠片曲面变形测量装置及方法
    基于多触头微反射镜的堆叠片曲面变形测量装置及方法_华中科技大学_202311252093.2
    本发明属于表面三维形貌测量相关技术领域，并公开了一种基于多触头微反射镜的堆叠片曲面变形测量装置及方法。该测量装置包括光源、阵列掩膜、分光器、反射镜、多触头微反射镜和相机，分光器设置在光源后方，阵列掩膜设置在分光器和光源中间，反射镜和多触头微...
    2026-04-17
  • 高功率光纤激光阵列光束倾斜像差检测与校正系统
    高功率光纤激光阵列光束倾斜像差检测与校正系统_中国人民解放军国防科技大学_202610005364.1
    本发明涉及高功率光纤激光技术领域，提供一种高功率光纤激光阵列光束倾斜像差检测与校正系统，包括主激光器，倾斜像差校正及准直模块，分光镜，探针激光器，光纤分束器，(6+1)×1光纤合束器，光纤波分复用器，自适应光纤准直器，光学平板，光电探测器，...
    2026-04-17
  • 一种基于FIO的块存储性能自动化测试方法、系统、存储介质
    一种基于FIO的块存储性能自动化测试方法、系统、存储介质_紫光云技术有限公司_202610030482.8
    本发明公开了一种基于FIO的块存储性能自动化测试方法、系统、存储介质，涉及云计算及存储性能测试技术领域，应用于包括管理节点和多台测试节点的云平台环境。通过在管理节点上运行环境部署脚本，自动完成测试节点IP管理、SSH免密配置、防火墙处理以及...
    2026-04-17
  • 一种梯度阻抗匹配层
    一种梯度阻抗匹配层_中国科学院声学研究所_202211434380.0
    本发明属于超声换能器和声学检测技术领域，具体是一种梯度阻抗匹配层，所述梯度阻抗匹配层包括第一匹配层和第二匹配层；第一匹配层和第二匹配层之间为第一背景介质和第二背景介质的分界面；所述第一匹配层由在第一背景介质中呈离散排列的实心填充物或空心填充...
    2026-04-17
  • 一种锡膏印刷测试设备
    一种锡膏印刷测试设备_亿铖达焊锡制造(昆山)有限公司_202521189001.5
    本实用新型涉及一种锡膏印刷测试设备，属于测试设备技术领域，包括机架，机架的内部设置有圆框，圆框的内壁固定连接有两个半齿环，圆框的一侧设置有两个伺服电机a，伺服电机a的输出轴处均固定连接有齿轮，齿轮均与对应的半齿环啮合连接。本实用新型的有益效...
    2026-04-17
  • 一种多光谱扫描仪影像色彩还原度检测装置
    一种多光谱扫描仪影像色彩还原度检测装置_苏州影源科技有限公司_202520992204.1
    本实用新型提供一种多光谱扫描仪影像色彩还原度检测装置，涉及检测装置技术领域，包括外壳，所述外壳的外壁一侧开设有安装槽。本实用新型中，当检测装置内部的光源和传感器经过长时间的高强度工作产生大量热量时，首先通过在输气泵和输气管的作用下，将外部的...
    2026-04-17
  • 一种基于多项式滤波的中频面形白光干涉拼接测量方法
    一种基于多项式滤波的中频面形白光干涉拼接测量方法_中国人民解放军国防科技大学_202511135355.6
    本发明公开了一种基于多项式滤波的中频面形白光干涉拼接测量方法，包括对X射线平面反射镜进行白光干涉拼接测量获取一组相邻子孔径空间位置有重叠的干涉测量面形结果；利用勒让德多项式对每个子孔径的面形结果进行拟合得到预设阶数下的多项式系数；根据多项式...
    2026-04-17
  • 基于AST语义特征动态可裁剪驱动测试代码生成方法
    基于AST语义特征动态可裁剪驱动测试代码生成方法_卡斯柯信号有限公司_202511979972.4
    本发明提供了一种基于AST语义特征动态可裁剪驱动测试代码生成方法，包括：获取驱动软件不同版本的源代码，利用版本管理工具进行差异分析，获得代码变更信息。对驱动源代码进行静态分析，构建其抽象语法树，并提取与硬件交互相关的语义特征信息。在AST上...
    2026-04-17
  • 波像差检测装置
    波像差检测装置_深圳稳顶聚芯技术有限公司_202511841218.4
    本申请涉及一种波像差检测装置，包括光源、孔阵列板和波前检测模块，所述光源用于输出非相干光；所述孔阵列板设于所述光源和待测镜头之间，所述孔阵列板设有多个透光孔；所述波前检测模块用于检测所述待测镜头的波像差信息；其中，所述光源输出的光经过所述透...
    2026-04-17
  • 基于时间解耦策略的航天器自主规划修复方法
    基于时间解耦策略的航天器自主规划修复方法_北京理工大学_202512048528.7
    基于时间解耦策略的航天器自主规划修复方法，属于航空航天领域。本发明实现方法为：建立航天器时间规划修复问题模型。在进行规划修复前将活动的时间点变量及时间约束表示为简单时间网络STN中的变量点与边，构建当前执行失败规划的STN。根据活动之间的时...
    2026-04-17
  • 异常检测方法及装置和异常根因定位方法及装置
    异常检测方法及装置和异常根因定位方法及装置_阿里巴巴(中国)有限公司_202210015195.1
    本申请公开了一种异常检测方法及装置和异常根因定位方法及装置，在异常扩散初期通过水位变化发现了异常问题的存在，为及时防止异常扩散做出了强有力的保证。在异常根因定位过程中，只搜索具有最大异常分数的父级组合节点即存在异常的分值最高的组合，而对其他...
    2026-04-17
  • 线程泄露的检测方法、电子设备和计算机可读存储介质
    线程泄露的检测方法、电子设备和计算机可读存储介质_荣耀终端有限公司_202410112375.0
    本申请实施例提供一种线程泄露的检测方法、电子设备和计算机可读存储介质，上述线程泄露的检测方法中，电子设备确定目标进程发生线程泄露之后，生成第一线程泄露日志，然后获取桥梁节点中存储的第二线程泄露日志，将第一线程泄露日志和第二线程泄露日志，聚合...
    2026-04-17
  • 错误检查与纠错电路及存储器
    错误检查与纠错电路及存储器_珠海横琴芯存半导体有限公司_202510406140.7
    本发明提供一种错误检查与纠错电路及存储器，该电路包括第一时序调控电路、第二时序调控电路、读数放大电路、运算电路、时序匹配电路和锁存电路，其通过第二时序调控电路和时序匹配电路来匹配第一时序调控电路、读数放大电路和运算电路的延时和布线延时，实现...
    2026-04-17
  • 面向SoC芯片的高效DDR4内存调试系统及调试方法
    面向SoC芯片的高效DDR4内存调试系统及调试方法_中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院_202511075505.9
    本发明涉及集成电路领域与芯片调试领域，提供一种面向SoC芯片的高效DDR4内存调试系统及调试方法，该系统包括：参数调试模块，用于根据DIMM信息、寄存器配置文件和工作模式信息，对寄存器配置文件中的待调整参数进行调整，并在完成寄存器参数配置后...
    2026-04-17
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