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最新专利技术
  • 角度传感器和旋转设备
    角度传感器和旋转设备_美蓓亚三美株式会社_202480062544.2
    角度传感器(1)具备：转子(2)，具有沿径向延伸的多个凸起(11)；基座(3)；以及导线(4)，被包覆。设于基座(3)的构造面(3a)的导线(4)形成沿径向具有多个起伏的平面形状，在轴线(x)方向上，凸起(11)与导线(4)对置。
    2026-05-01
  • 一种从音频信号中提取特征的方法和设备
    一种从音频信号中提取特征的方法和设备_坦德姆朗奇股份有限公司_202480063073.7
    一种从声音时间序列信号中提取特征的设备，所述设备包括：包括膜片和背板的电容麦克风，所述电容麦克风用于检测所述声音时间序列信号并输出特征信号，所述特征信号指示包含在所述声音时间序列信号中的数据的特征；DC信号发生器，用于生成DC电流信号，所述...
    2026-05-01
  • 光学安装件及包括光学安装件的光谱仪
    光学安装件及包括光学安装件的光谱仪_雷尼绍有限公司_202480063220.0
    一种光学安装件，包括：第一光学固持器201，该第一光学固持器用于安装反射式第一光学器件214；以及光学选择器202，该光学选择器包括用于多个第二光学器件216、216a、216b的第二光学固持器229。第二固持器229可以被安装成绕选择轴线...
    2026-05-01
  • 软管测试方法及测试装置
    软管测试方法及测试装置_莱尼电气系统有限公司_202480062645.X
    公开了一种借助测试装置(2)测试软管(4)的方法，其中，测试装置(2)具有第一测试接口(6)和第二测试接口(8)，软管(4)连接至或将连接至这两个接口，其中，测试装置(2)具有介质供给(10)，借助该介质供给，测试介质可流入软管(4)或从软...
    2026-05-01
  • 底盘测功机
    底盘测功机_株式会社TMEIC_202480049307.2
    本公开的目的在于提供一种不变更底盘测功机的机械构造而抑制共振/振动现象的底盘测功机。本公开的底盘测功机(1)的逆变器(4)包括：陷波滤波器(40)，从旋转指令信号(S3)使包括底盘测功机1的机械固有频率的衰减对象频带的信号衰减而输出旋转指令...
    2026-05-01
  • 微粒采样装置和微粒采样方法
    微粒采样装置和微粒采样方法_松下知识产权经营株式会社_202480063345.3
    将微粒捕集到液体中的微粒采样装置包括：轴心方向的两端部开口的筒状的第一电极；在第一电极的轴心方向上延伸且在第一电极内与第一电极的内表面隔开间隔地配置的第二电极；向第一电极内供给液体，使液体贮存在绕第一电极的轴心的方向上的第一电极的内表面的一...
    2026-05-01
  • 铝构件的特性预测方法
    铝构件的特性预测方法_株式会社力森诺科_202480063174.4
    本发明的铝构件的特性预测方法，具有：机械特性测定工序，对于未锻造的第一铝构件和锻造的多个第二铝构件，测定T6处理后的机械特性；Z因子算出工序，对于锻造加工中的第二铝构件，通过数值解析来求出在每个锻造加工步骤中的温度以及应变速度，使用求出的温...
    2026-05-01
  • 微粒分选系统、孔组件和板
    微粒分选系统、孔组件和板_索尼集团公司_202480056128.1
    本发明的目的是提供一种能够使试管流动通道和孔精确地对准的技术。本技术提供了一种微粒分选系统，包括：试管，包含微粒的液体流过试管；保持部，保持包括喷射液体的孔部的板；以及控制部，执行控制以改变保持部的位置，从而使得保持部基本上平行于喷射轴，其...
    2026-05-01
  • 具有双平面电动机载台的计量系统
    具有双平面电动机载台的计量系统_科磊股份有限公司_202480061382.0
    一种系统包含定子，以及安置在所述定子的水平表面上方的第一载体及第二载体。多个电磁线圈以阵列安置在所述水平表面下方。所述第一载体及所述第二载体各自包含布置成阵列的多个磁体且经配置以分别支撑第一衬底及第二衬底。控制器经配置以个别地供能给所述多个...
    2026-05-01
  • 用于测定交联度的方法
    用于测定交联度的方法_聚合物技术中心莱奥本有限责任公司_202480062575.8
    本发明涉及一种用于测定样品(2)中聚合物(1)的交联度的方法，所述方法包括以下步骤：将所述聚合物(1)暴露于源自辐射源(4)的近红外辐射(3)，特别是使得所述近红外辐射(3)至少穿过所述聚合物(1)一次；确定测量值集，所述测量值集指示在测量...
    2026-05-01
  • 一种非线性光学大视野成像系统
    一种非线性光学大视野成像系统_北京昌平实验室_202480005230.9
    本发明涉及大视野场景领域，提供了一种非线性光学大视野成像系统，包括光源系统、激光扫描系统及激光探测系统；光源系统用于发射激光；激光扫描系统包括聚焦透镜及振镜，振镜位于聚焦透镜与被测样品之间，聚焦透镜用于将激光聚焦到被测样品，振镜按照预设的扫...
    2026-05-01
  • 带有透镜设备的样本分析系统
    带有透镜设备的样本分析系统_精密种植有限责任公司_202480062296.1
    本发明涉及一种样本分析系统，所述样本分析系统带有透镜除雾设备。所述样本分析系统包括等离子体炬装置(200)，其包括限定等离子体腔室(202)的主体和在所述等离子体腔室(202)中由所述主体支撑的等离子体炬(201)。等离子体炬(201)电联...
    2026-05-01
  • 进行生物测定的方法
    进行生物测定的方法_美国西门子医学诊断股份有限公司_202480060169.8
    本公开内容涉及进行生物测定的方法。该方法包括确定由多种发光试剂与测试样本之间的反应产生的光强度的累积值。基于知识库，可以确定与多种生物测定对应的物质的存在和/或浓度。知识库通过确定由不同浓度的多种发光试剂与人体的测试样本之间的多次反应产生的...
    2026-05-01
  • 用于封盖机的检查系统和用于检查预施加在包含可倾倒产品的包装上的闭合结构的方法
    用于封盖机的检查系统和用于检查预施加在包含可倾倒产品的包装上的闭合结构的方法_利乐拉瓦尔集团及财务有限公司_202480062866.7
    描述了用于封盖机(13)的检查系统(14)，该封盖机(13)被配置为将盖子(6)施加到包含可倾倒产品的包装(2)上，每个包装都设置有相应的闭合结构(5)，该闭合结构(5)至少包括预施加在包装(2)的相应主壁(2b)上的套环(5a)并适于容纳...
    2026-05-01
  • 光谱差量计量
    光谱差量计量_科磊股份有限公司_202480061308.9
    检验系统可使用在线测量子系统在第一工艺步骤之后接收训练样本的第一测量数据，其中所述第一工艺步骤在所述一或多个训练样本上制造测试特征之前；及在第二工艺步骤之后接收所述测试特征的第二测量数据，其中所述第二工艺步骤在制造所述测试特征之后。检验系统...
    2026-05-01
  • X射线拍摄系统以及X射线检查装置
    X射线拍摄系统以及X射线检查装置_欧姆龙株式会社_202480062389.4
    一种X射线拍摄系统，其具有：X射线源，其被设置成至少能够在水平方向上移动；X射线照相机，其被设置成至少能够在水平方向上移动；工件保持部，其保持拍摄对象物，并且被设置成能够在水平方向和铅垂方向上移动；以及控制单元，其至少控制所述X射线源、所述...
    2026-05-01
  • 半导体检验中用于扫描声学显微镜检验的增强模式
    半导体检验中用于扫描声学显微镜检验的增强模式_科磊股份有限公司_202480061354.9
    一种扫描声学显微镜系统可包含一或多个测量组合件，其中所述测量组合件中的相应者包括换能器及接收器，其中所述一或多个测量组合件中的至少一者的所述接收器包括用以同时产生与样本相关联的多个位置的传感器数据的多像素传感器。工具可包含经配置以扫描所述样...
    2026-05-01
  • 用于确定介质的电导率的测量值的装置
    用于确定介质的电导率的测量值的装置_恩德斯豪斯欧洲两合公司_202480062271.1
    本发明描述了一种用于确定介质(100)电导率的测量值的装置。电子器件(3)向第一电极(1)和第二电极(2)中的每一个应用各自的激励信号，并从电极(1, 2)接收各自的接收信号。电子器件(3)基于接收信号来确定覆盖度，作为电极(1, 2)上方...
    2026-05-01
  • 检测装置、检测方法、程序
    检测装置、检测方法、程序_大金工业株式会社_202480061418.5
    本发明提供一种技术，鉴定或定量花粉、霉菌、螨虫等的过敏原。检测装置使用多个半导体传感器。多个半导体传感器对相同气体成分显示相对不同的应答特性。检测装置获取多个半导体传感器所检测的信号图案，从多个所述信号图案鉴定或定量过敏原，输出鉴定或定量的...
    2026-05-01
  • 成像分析装置及成像分析方法
    成像分析装置及成像分析方法_株式会社岛津制作所_202380102906.1
    本发明的一方案的成像分析装置具备：测量部(1)，其针对设定在目标试样上的测量区域内的多个微小区域分别执行预定的分析；解析部(22, 23, 24, 25)，其基于由测量部得到的每个微小区域的数据，在设定的聚类分析条件下，执行将测量区域内的多...
    2026-05-01
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