西安奕斯伟材料科技股份有限公司;西安奕斯伟硅片技术有限公司鲁晶鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉西安奕斯伟材料科技股份有限公司;西安奕斯伟硅片技术有限公司申请的专利一种硅片研磨装置、方法及可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119489375B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411659335.4,技术领域涉及:B24B9/06;该发明授权一种硅片研磨装置、方法及可读存储介质是由鲁晶鑫设计研发完成,并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种硅片研磨装置、方法及可读存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供了一种硅片研磨装置、方法及可读存储介质,涉及半导体加工技术领域。该硅片研磨装置,包括:研磨组件;所述研磨组件包括:砂轮法兰盘、轴体、支撑结构以及调整单元;所述砂轮法兰盘设置于所述轴体的第一端,用于对硅片进行研磨;所述支撑结构设置于所述轴体的下方,且第一距离与第二距离的差值小于预设值;所述第一距离为所述支撑结构距离所述轴体第一端的距离,所述第二距离为所述支撑结构与所述轴体第二端的距离;所述调整单元设置于所述轴体的第二端,用于控制所述轴体的第二端沿目标方向移动,所述目标方向为垂直于所述轴体的轴线的方向。解决了现有技术中立式研磨装置无法调节对硅片边缘的研磨精度,影响硅片质量的问题。
本发明授权一种硅片研磨装置、方法及可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种硅片研磨装置,其特征在于,包括:研磨组件; 所述研磨组件包括:砂轮法兰盘、轴体、支撑结构以及调整单元; 所述砂轮法兰盘设置于所述轴体的第一端,用于对硅片进行研磨; 所述支撑结构设置于所述轴体的下方,且第一距离与第二距离的差值小于预设值;所述第一距离为所述支撑结构与所述轴体第一端的距离,所述第二距离为所述支撑结构与所述轴体第二端的距离; 所述调整单元设置于所述轴体的第二端,用于控制所述轴体的第二端沿目标方向移动,所述目标方向为垂直于所述轴体的轴线的方向; 其中,所述调整单元,包括:伺服电机和配重块; 所述配重块与所述轴体的第二端可移动连接; 所述伺服电机的输出轴与所述配重块连接; 在所述伺服电机处于第一状态的情况下,所述输出轴伸出所述伺服电机并带动所述配重块靠近所述支撑结构,以使所述轴体的第一端向下倾斜;在所述伺服电机处于第二状态的情况下,所述输出轴缩回所述伺服电机并带动所述配重块远离所述支撑结构,以使所述轴体的第一端向上倾斜; 所述硅片研磨装置还包括: 距离测量单元,用于测量所述配重块的移动距离; 角度测量单元,用于测量所述砂轮法兰盘的偏移角度; 其中,所述移动距离和所述偏移角度用于校正所述硅片研磨装置。
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