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龙图腾网获悉北京大学;北京龙软科技股份有限公司申请的专利一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116299357B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310151082.9，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统和方法是由毛善君;李犇;陈华州;张弘设计研发完成，并于2023-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统和方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统和方法，涉及光学测量技术领域。基于Mie式散射和多粒子单散射模型得到粉尘环境下的激光功率衰减模型和波长变化关系；基于功率衰减模型和Lambert‑Beer定律得到功率衰减系数，估算仪器有效测距范围；基于波长变化关系和麦克斯韦电磁理论建立粉尘环境下的距离校正模型。应用时，在受限空间内收集粉尘并取得粒径分布谱；在受限空间布设浓度测量仪实时采集粉尘质量浓度；依据布设点粉尘浓度进行空间内插，得到测距光路上的粉尘质量浓度；将粒径分布和光路粉尘质量浓度代入衰减模型和距离校正模型，得到改正值校正实测距离，最终提高激光测距仪在矿井工作面、建筑工地等受限空间粉尘环境中的测距准确度。

本发明授权一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种用于受限空间粉尘环境内的激光测距校正系统，其特征在于，所述激光测距校正系统包括：激光测距仪、光学探测模块、粉尘扩散模块、上位机和多个粉尘浓度测量模块； 所述激光测距仪与所述光学探测模块分别布设于所述粉尘扩散模块的两端； 所述光学探测模块用于测量所述激光测距仪的功率和波长； 所述粉尘扩散模块用于分批次投放不同粒径级别的不同质量粉尘，以及控制不同粒径级别的不同质量粉尘均匀稳态扩散； 多个所述粉尘浓度测量模块布置于所述粉尘扩散模块内，用于各自采集所述激光测距仪发射激光的光路上的粉尘质量浓度； 所述上位机用于根据得到的功率，建立功率衰减模型，进而基于所述功率衰减模型计算得到所述激光测距仪在各个粒径级别下的不同粉尘质量浓度对应的测距有效范围； 所述上位机还用于根据波长变化建立各个粒径级别下的质量浓度-波长变化关系，根据所述质量浓度-波长变化关系，结合麦克斯韦电磁理论建立不同粉尘质量浓度对应的距离校正模型，进而在实际应用时基于所述距离校正模型计算得到各个粒径级别下的不同粉尘质量浓度对应的距离校正值； 其中，所述上位机计算得到所述测距有效范围，以及建立得到所述距离校正模型的具体方法包括： 在无尘环境下，所述光学探测模块多次测量所述激光测距仪的功率和波长，并发送至所述上位机；所述上位机接收并记录多次测量得到的所述功率和波长，进行求取平均值计算，得到无尘环境下所述激光测距仪的无损功率和无损波长数据；通过所述粉尘扩散模块，分批次投放不同粒径级别的不同质量粉尘，以及利用所述粉尘扩散模块控制不同粒径级别的不同质量粉尘均匀稳态扩散；多个所述粉尘浓度测量每批次不同粒径级别的不同粉尘质量浓度，并发送至所述上位机；所述光学探测模块测量每批次不同粒径级别的不同粉尘质量浓度对应的激光测距仪的功率和波长，并发送至所述上位机；所述上位机接收并记录每批次不同粒径级别的不同粉尘质量浓度对应的激光测距仪的功率和波长，进行求取平均值计算，得到不同有尘环境下所述激光测距仪的有效功率和有效波长数据；所述上位机根据无损功率数据和有效功率数据，计算得到不同有尘环境下所述激光测距仪的测距有效范围；所述上位机在所述测距有效范围内，拟合所述无损波长数据、所述有效波长数据，得到各个粒径级别下的质量浓度-波长变化关系，根据所述质量浓度-波长变化关系，结合麦克斯韦电磁理论建立得到所述距离校正模型，以在实际应用时基于所述距离校正模型对所述激光测距仪在实际受限空间粉尘环境内的实测距离进行校正。

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