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龙图腾网获悉浙江工业大学申请的专利基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297186B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310135808.X，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统及方法是由李东梅;吴宇航;张祺昊设计研发完成，并于2023-02-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统及方法在说明书摘要公布了：基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统及方法。本发明包括SLD光源、高斯滤波片、偏振片Ⅰ、偏振片Ⅱ、光波导、四分之一波片Ⅰ、四分之一波片Ⅱ以及光谱仪。SLD光源发射中心波长为830nm的激光，激光经过高斯片后通过前选择偏振片进行前选择。光到达光波导后在待测液‑波导表面多次全内反射后出射，出射光经过波片进行p和s偏振的相位调节，通过后选择偏振片进行后选择，出射光由光谱仪接收并进行中心波长分析，最终由计算机根据中心波长位移计算得到待测液体折射率。本发明还提供基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感方法。本发明通过光波导实现直线共路和多次反射，较传统的测量方法具有更高的稳定性和灵敏度。

本发明授权基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统及方法在权利要求书中公布了：1.基于光波导结构与弱测量的液体折射率传感系统的液体折射率探测方法，其特征在于：液体折射率传感系统包括沿光路依次设置的SLD光源1、高斯滤波片2、偏振片Ⅰ3、光波导5、四分之一波片Ⅰ6、四分之一波片Ⅱ7、偏振片Ⅱ8和光谱仪9，所述光波导5是平面介质光波导，平面介质光波导由基底、介质膜和覆盖层组成；将平面介质光波导中的覆盖层替换为待测液4，待测液4的折射率小于介质膜的折射率，使得光波局限在介质膜内传播； 所述SLD光源1发射激光，激光经过高斯滤波片2后通过偏振片Ⅰ3进行前选择；前选择后的激光到达光波导5后在待测液4与介质膜表面多次反射后出射，出射后的激光经过四分之一波片Ⅰ6、四分之一波片Ⅱ7进行p和s偏振的相位调节；相位调节后的激光通过偏振片Ⅱ8进行后选择，后选择后的激光入射至光谱仪9的接收端，光谱仪9进行中心波长分析得到中心波长位移；光谱仪9与计算机电连接，计算机根据中心波长位移计算得到待测液4的折射率； 所述液体折射率探测方法，计算机根据中心波长位移计算得到待测液4的折射率，包括以下步骤： 1设光波导的长度为，厚度为，入射角为，前选择后的激光在待测液-介质膜界面 的反射次数可以表示为： 式中，表示向下取整，则反射产生的总相位差，其中为单次反射的相位 差，与入射角、液体折射率及光波导折射率有关，而入射角与光波导倾角有关，利用 几何关系，由折射定律得： 相位差根据菲涅尔公式可得： 2根据弱测量理论，激光光谱中心光谱的位移可表示为： 式中，为相互作用强度，为激光谱宽，为激光的中心波长，为观测的弱值， 为反射产生的总相位差，为波片产生的相位差常量，是与偏振片角度有关的常量； 3综合步骤1和2的公式，得到中心波长移动与光波导的关系为： 4通过光谱仪测得中心波长位移，反向解得反射产生的总相位差，根据光波导尺寸，利用公式1-5，得到待测液的折射率。

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