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龙图腾网获悉中国工程物理研究院流体物理研究所申请的专利一种CT图像伪影校正方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116228902B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310060751.1，技术领域涉及：G06T12/30；该发明授权一种CT图像伪影校正方法、系统及介质是由谭伯仲;阳庆国设计研发完成，并于2023-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种CT图像伪影校正方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种CT图像伪影校正方法、系统及介质，获取投影图像集；在投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行化处理，获得直穿投影数据，通过硬化校正函数对直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历投影图像集，获得若干映射投影数据；构建重建图像；计算重建图像的信息熵，以信息熵最小为目标，计算散射核函数中的最优散射拟合参数以及硬化校正函数中的最优硬化拟合参数；基于最优散射拟合参数对若干影数据进行散射校正，通过最优硬化拟合参数对直穿投影数据进行校正，基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像；本发明的有益效果为实现了通过准确获取的校正参数，构建去伪影效果好的CT图像。

本发明授权一种CT图像伪影校正方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种CT图像伪影校正方法，其特征在于，方法步骤包括： 获取投影图像集，所述投影图像集为待测物体在不同角度下拍摄的投影图像； 在所述投影图像集中，选择任意一张投影图像，通过散射核函数对所述投影图像进行处理，获得直穿投影数据，再通过硬化校正函数对所述直穿投影数据进行处理，获得映射投影数据，遍历所述投影图像集，获得若干映射投影数据； 基于若干所述映射投影数据，构建重建图像； 计算所述重建图像的信息熵，以所述信息熵最小为目标，计算所述散射核函数中的最优散射拟合参数以及所述硬化校正函数中的最优硬化拟合参数； 基于所述最优散射拟合参数对若干影数据进行散射校正，通过所述最优硬化拟合参数对若干所述直穿投影数据进行校正，并基于校正后的数据，构建所述待测物体的CT图像， 其中，所述最优散射拟合参数以及所述最优硬化拟合参数通过以下方式获得： 以信息熵为目标函数，构建最优化参数求解模型； 采用迭代优化求解方法，求解获得最优散射拟合参数以及所述最优硬化拟合参数，所述迭代求解方法中，其收敛条件为：参数空间的最大距离小于等于设定的距离值，其中，i、j为参数空间中参数点的编号，为散射核函数散射拟合参数，为硬化校正函数的拟合参数，d为设定的距离值。

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