株式会社理学菊地拓哉获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社理学申请的专利校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116182753B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211448875.9，技术领域涉及：G01B15/00；该发明授权校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具是由菊地拓哉;小泽哲也;松尾隆二设计研发完成，并于2022-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具在说明书摘要公布了：提供一种校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具。校正量确定装置300具备：衍射数据存储部310，其存储衍射数据，衍射数据是对作为各向同性且无应变的晶体颗粒的集合体的标准试样照射X射线而得到的，包括相对于试样旋转角和试样表面高度的照射X射线的衍射角度的组合；对应关系决定部320，其基于衍射数据来决定第1对应关系；以及校正量确定部330，其通过第1函数来确定相对于希望的试样旋转角和衍射角度的试样表面高度的校正量。
本发明授权校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具在权利要求书中公布了：1.一种校正量确定装置，是针对因试样相对于测定系统的旋转而产生的X射线照射位置的偏移确定校正量的校正量确定装置，其特征在于，具备： 衍射数据存储部，其存储衍射数据，所述衍射数据是对作为各向同性且无应变的晶体颗粒的集合体的标准试样照射X射线而得到的，包括相对于试样旋转角和试样表面高度的照射X射线的衍射角度的组合； 对应关系决定部，其基于所述衍射数据来决定第1对应关系；以及 校正量确定部，其通过所述第1对应关系来确定相对于希望的所述试样旋转角和所述衍射角度的所述试样表面高度的校正量。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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