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龙图腾网获悉福建时代星云科技有限公司申请的专利一种集成式高压管理单元及其高压采样方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116154902B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310065254.0，技术领域涉及：H02J7/80；该发明授权一种集成式高压管理单元及其高压采样方法是由林光伟设计研发完成，并于2023-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成式高压管理单元及其高压采样方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种集成式高压管理单元及其高压采样方法，包括ADC芯片、MCU处理器、通信总线和多路选择器；ADC芯片和MCU处理器通过通信总线通信连接；ADC芯片内部集成两个ADC单元，其中第一ADC单元通过电流采样器件连接于电流输入输出点，第二ADC单元通过多路选择器分为PACK通道、LINK通道和绝缘通道后分别与PACK电压采样器、LINK电压采样器和绝缘采样器连接。本发明通过集成有两个ADC单元的单个ADC芯片，并结合多路选择器，以实现同时对电流、PACK电压、LINK电路电压以及绝缘检测的目的，保证了各个信号检测的周期性，并有效简化了原理图及PCB布线，降低成本。

本发明授权一种集成式高压管理单元及其高压采样方法在权利要求书中公布了：1.一种高压采样方法，应用于一种集成式高压管理单元，其特征在于，所述集成式高压管理单元包括ADC芯片、MCU处理器、通信总线和多路选择器； 所述ADC芯片和所述MCU处理器通过所述通信总线通信连接； 所述ADC芯片内部集成两个ADC单元，其中第一ADC单元通过电流采样器件连接于电流输入输出点，第二ADC单元通过多路选择器分为PACK通道、LINK通道和绝缘通道后分别与PACK电压采样器、LINK电压采样器和绝缘采样器连接； 所述方法包括步骤： S1、预设第一采样周期T1、第二采样周期T2和第三采样周期T3，其中T1＜T3，T2＜T3； S2、MCU处理器每间隔T1读取一次第一ADC单元计算的总电流值； S3、每间隔T2读取第二ADC单元计算的LINK电压Ulink和PACK电压Upack； S4、每间隔T3读取第二ADC单元计算的绝缘电阻； 所述步骤S4具体为： S41、所述MCU处理器每间隔T3，闭合绝缘检测电路中的正极继电器Kp和负极继电器Kn，延时Tch后获取第二ADC单元的芯片锁，然后通过所述多路选择器切换至绝缘通道，并延时Ty后通过绝缘采样器测得Kn靠近Kp的一端与下桥臂电阻R2中的下桥臂第二分压电阻R22远离下桥臂第一分压电阻R21的一端之间的电压U1； 由于经过Rn||R2与Rp||R1的电流是相等的，则有： 1； 其中，R1为上桥臂电阻，R2为下桥臂电阻，R21和R22分别为R2的下桥臂第一分压电阻和下桥臂第二分压电阻； S42、释放所述第二ADC单元的芯片锁，并断开Kp，保持Kn闭合； S43、延时Ty后再次获取所述第二ADC单元的芯片锁，并再次通过所述多路选择器切换至绝缘通道，延时Tch后通过所述绝缘采样器测得R21靠近Kn的一端与R22远离R21的一端之间的电压U2，其中，Tch＜Ty； 由于经过Rn||R2与R2||Rp的电流是相等的，则有： 2； 简化得： 3； S44、释放所述第二ADC单元的芯片锁，并断开Kp和Kn； S45、将公式3代入公式1，求得Rp和Rn。

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