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龙图腾网获悉浙江华忆芯科技有限公司申请的专利硬盘坏块的筛选方法、装置、存储介质及电子装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115966237B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211635101.7，技术领域涉及：G11C29/04；该发明授权硬盘坏块的筛选方法、装置、存储介质及电子装置是由田进成设计研发完成，并于2022-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本硬盘坏块的筛选方法、装置、存储介质及电子装置在说明书摘要公布了：本发明实施例提供了一种硬盘坏块的筛选方法、装置、存储介质及电子装置，该方法包括：获取待测试的目标硬盘，在目标温度环境下对目标硬盘进行读写测试，得到一组比特翻转数，根据一组比特翻转数确定比特翻转数阈值，将与比特翻转数阈值满足预设条件的比特翻转数对应的块确定为目标硬盘中的坏块。通过本发明，解决相关技术中存在的因颗粒特性分析不全面而导致的坏块漏筛或误筛的问题。

本发明授权硬盘坏块的筛选方法、装置、存储介质及电子装置在权利要求书中公布了：1.一种硬盘坏块的筛选方法，其特征在于，包括： 获取待测试的目标硬盘，其中，所述目标硬盘由多个待筛选的块组成； 在目标温度环境下对所述目标硬盘进行读写测试，得到一组比特翻转数，其中，所述目标温度环境是与预设温度的温差始终超过预设值的温度环境，所述一组比特翻转数中的一个比特翻转数与所述目标硬盘中一个块对应，所述一个比特翻转数表示在所述读写测试过程中，比特0翻转为比特1的个数以及比特1翻转为比特0的个数的累计值； 根据所述一组比特翻转数确定比特翻转数阈值，其中，所述比特翻转数阈值由所述一组比特翻转数的比特翻转数均值和比特翻转数次大值确定，包括：根据所述一组比特翻转数确定所述目标硬盘在所述目标温度环境下的所述比特翻转数均值、所述比特翻转数次大值以及比特翻转数最小值；根据所述比特翻转数均值、所述比特翻转数次大值以及所述比特翻转数最小值确定第一比特翻转数区间和第二比特翻转数区间，其中，所述第一比特翻转数区间的下限是所述比特翻转数最小值，上限是所述比特翻转数均值，所述第二比特翻转数区间的下限是所述比特翻转数均值，上限是所述比特翻转数次大值；根据所述一组比特翻转数处于所述第一比特翻转数区间的第一数量和所述一组比特翻转数处于所述第二比特翻转数区间的第二数量确定所述比特翻转数阈值；根据所述第一数量和所述第二数量确定所述比特翻转数均值对应的预筛选良率，其中，所述预筛选良率表示在所述目标硬盘为多个硬盘的情况下，坏块数量未超过预设坏块数量的硬盘的数量占所述多个硬盘的硬盘数量的比例；根据所述预筛选良率确定所述比特翻转数阈值； 将与所述比特翻转数阈值满足预设条件的比特翻转数对应的块确定为所述目标硬盘中的坏块。

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