芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(南京)有限公司王业清获国家专利权
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龙图腾网获悉芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(南京)有限公司申请的专利芯片测试系统及芯片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115754677B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211459421.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试系统及芯片测试方法是由王业清;熊亚军;张涌设计研发完成，并于2022-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试系统及芯片测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片测试系统，包括：自动测试机，至少产生一组测试信号和一组调节信号，其中，测试信号包括正端测试信号和负端测试信号，调节信号包括正端调节信号和负端调节信号；调节电路，包括正端调节模块和负端调节模块，正端调节模块接收正端测试信号和正端调节信号，负端调节模块接收负端测试信号和负端调节信号，以基于调节信号连续调节测试信号的电压幅值和或于测试信号上加入共模噪声。通过本发明提供的芯片测试系统，解决了现有使用ATE的测试系统中，存在ATE的差分信号无法做连续的电压幅值变化且无法直接加入共模噪声的问题。
本发明授权芯片测试系统及芯片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括： 自动测试机，至少产生一组差分信号作为测试信号以及一组调节信号，其中，所述测试信号包括正端测试信号和负端测试信号，所述调节信号包括正端调节信号和负端调节信号； 调节电路，包括正端调节模块和负端调节模块，所述正端调节模块接收所述正端测试信号和所述正端调节信号，所述负端调节模块接收所述负端测试信号和所述负端调节信号，以基于另一组差分信号作为所述调节信号，并基于所述调节信号连续调节所述测试信号的电压幅值，其中，所述测试信号在设定时间内连续输出，所述调节信号在设定时间内的第一阶段连续输出，在第二阶段停止输出，和或，基于两个具有相同电压幅值和相位的单端信号作为所述调节信号，并基于所述调节信号于所述测试信号上加入共模噪声； 其中，所述正端调节模块和所述负端调节模块均采用三电阻型功分器实现。
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