上海施美德源高新科技有限责任公司请求不公布姓名获国家专利权
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龙图腾网获悉上海施美德源高新科技有限责任公司申请的专利一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115628692B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211216684.X，技术领域涉及：G01B11/02；该发明授权一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法，其通过探查通道的导光束和相机配合相干激光照明，采集通道内原始激光散斑图像，通过划取图像中垂直划痕的直线进行散斑域高斯分布拟合，来测定目标划痕的深度和宽度。本发明提供的方案能够应用到特定内窥镜管道直径下，有效的测定划痕的深度和宽度。
本发明授权一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法在权利要求书中公布了：1.基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法，其特征在于，通过探查通道的导光束和相机配合相干激光照明，采集通道内原始激光散斑图像，通过划取图像中垂直划痕的直线进行散斑域高斯分布拟合，来测定目标划痕的深度和宽度；所述测定方法包括如下步骤： 步骤S1，将相干激光光源接入通道的导光束，使用探查相机同步采集原始散斑图像； 步骤S2，对图像的每一个像素位置，计算每个像素位置对应的衬比度值，将初始原始散斑图像转化为衬比度值图像； 步骤S3，对衬比度值图像做动态范围拉伸； 步骤S4，在衬比度值图像中标注中心点坐标和算法有效区域； 步骤S5，拟合划痕位置高斯曲线，在衬比度值图像上划取一条直线，所述划取直线的范围在算法有效区域，且划取直线垂直于划痕；通过划取直线上的L个像素点的值够勾勒出一条曲线，通过高斯分布来进行拟合曲线； 步骤S6，在拟合得到的最优高斯拟合曲线上，计算半宽高和半高宽； 步骤S7，根据半高宽来进行拟合真实的物理空间下划痕的宽度，并根据半宽高来进行拟合真实的物理空间下划痕的深度。
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