贝克顿·迪金森公司施瑞亚斯·巴班获国家专利权
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龙图腾网获悉贝克顿·迪金森公司申请的专利用于光探测器的定量表征的装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115485541B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180029519.0，技术领域涉及：G01N15/14；该发明授权用于光探测器的定量表征的装置和方法是由施瑞亚斯·巴班;菲德·伊科夫设计研发完成，并于2021-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于光探测器的定量表征的装置和方法在说明书摘要公布了：本公开的各方案包括用于确定光电探测器例如，颗粒分析器中的光电探测器的参数的方法。根据某些实施例的方法包括：使用光源例如，连续波光源以第一强度照射定位在颗粒分析器中的光电探测器达第一预定时间间隔；使用光源以第二强度照射光电探测器达第二预定时间间隔；在包括第一预定时间间隔和第二预定时间间隔的时间段内对来自光电探测器的数据信号进行积分；以及基于积分的数据信号确定光电探测器的一个或多个参数。本公开还描述了用于实施主题方法的具有光源和光电探测器的系统例如，颗粒分析器。本公开还提供了非暂时性计算机可读存储介质，其上存储有用于根据主题方法确定光电探测器的参数的指令。
本发明授权用于光探测器的定量表征的装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种用于确定颗粒分析器中的光电探测器的参数的方法，该方法包括： 使用光源以第一强度照射位于颗粒分析器中的光电探测器达第一预定时间间隔； 使用所述光源以与第一强度不同的第二强度照射所述光电探测器达第二预定时间间隔； 将所述光电探测器在所述第一预定时间间隔和所述第二预定时间间隔期间产生的数据信号积分在一起；以及 基于所述积分的数据信号确定所述光电探测器的一个或多个参数。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人贝克顿·迪金森公司，其通讯地址为：美国新泽西州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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