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龙图腾网获悉贵州理工学院;深圳市华源精密科技有限公司申请的专利线路板深度盲孔加工控制方法及控制系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120540198B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511032680.X，技术领域涉及：G05B19/19；该发明授权线路板深度盲孔加工控制方法及控制系统是由王喜宾;朱德清设计研发完成，并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本线路板深度盲孔加工控制方法及控制系统在说明书摘要公布了：本发明实施例提供一种线路板深度盲孔加工控制方法及控制系统，通过获取包含多个加工批次的历史加工监测数据集，对历史加工监测数据集进行多维度特征融合，生成加工影响特征集，将加工影响特征集输入预设的精度优化模型，通过精度优化模型执行特征因果分析，得到特征影响结果；基于特征影响结果，生成加工参数调整策略；根据加工参数调整策略，对当前加工过程的路径规划参数和能量输入参数进行适应性调整。通过本发明的方案，能够有效利用多维度数据的关联规律和因果关系，在提升盲孔深度精度、孔位精度及孔壁质量时，既考虑单一参数的影响，又兼顾参数间的协同作用，从而实现更全面、更可靠的加工控制效果。

本发明授权线路板深度盲孔加工控制方法及控制系统在权利要求书中公布了：1.一种线路板深度盲孔加工控制方法，其特征在于，包括： 获取包含多个加工批次的历史加工监测数据集，所述历史加工监测数据集包含每个加工批次的加工路径规划数据、能量输入记录及对应批次的盲孔三维检测数据； 对所述历史加工监测数据集进行多维度特征融合，生成加工影响特征集，所述加工影响特征集包含路径规划特征、能量输入特征及盲孔质量特征的动态关联关系； 将所述加工影响特征集输入预设的精度优化模型，通过所述精度优化模型执行特征因果分析，得到特征影响结果； 基于所述特征影响结果，生成加工参数调整策略； 根据所述加工参数调整策略，对当前加工过程的路径规划参数和能量输入参数进行适应性调整； 其中，所述精度优化模型包含特征关联模块、因果推理模块及结果输出模块；所述将所述加工影响特征集输入预设的精度优化模型，通过所述精度优化模型执行特征因果分析，得到特征影响结果，包括： 通过所述特征关联模块接收所述加工影响特征集，对所述路径规划特征与孔位偏移轨迹集合进行同步对齐，对所述能量输入特征与深度偏差分布图谱进行时间对齐处理； 通过所述因果推理模块基于对齐后的特征数据，执行路径规划特征对孔位精度的因果强度计算操作，通过条件概率分析确定路径拐角曲率分布对孔位偏移量的影响概率； 通过所述因果推理模块同步执行能量输入特征对深度精度的因果强度计算操作，通过回归分析确定脉冲能量波动曲线与深度偏差值的关联关系； 通过所述因果推理模块执行路径规划特征与能量输入特征对孔壁质量的协同影响分析操作，通过交互作用检验确定路径拐角曲率分布与能量密度空间分布共同作用于孔壁粗糙度梯度矩阵的影响模式； 通过所述结果输出模块整合所述因果强度计算结果和所述协同影响分析结果，生成所述特征影响结果，所述特征影响结果包含路径规划特征的孔位影响强度值、能量输入特征的深度作用系数及协同影响模式的特征组合标识； 其中，所述通过所述因果推理模块基于对齐后的特征数据，执行路径规划特征对孔位精度的因果强度计算操作，包括： 从对齐后的特征数据中提取路径拐角曲率分布的曲率半径值和对应的孔位偏移量； 将曲率半径值划分为第一曲率组、第二曲率组和第三曲率组，统计各组内的孔位偏移量均值； 计算第一曲率组偏移量均值与第三曲率组偏移量均值的差值，得到曲率变化对孔位偏移的基础影响量； 引入初始定位偏差序列作为协变量，通过多元线性回归模型计算曲率半径值对孔位偏移量的影响系数； 将所述影响系数作为路径拐角曲率分布对孔位偏移量的因果强度值； 重复上述步骤，计算初始定位偏差序列和多孔间距均匀性模式对孔位偏移量的因果强度值，得到路径规划特征的孔位影响强度值集合； 所述通过所述因果推理模块同步执行能量输入特征对深度精度的因果强度计算操作，包括： 从对齐后的特征数据中提取脉冲能量波动曲线的能量平均值和对应的深度偏差值； 以能量平均值为自变量，深度偏差值为因变量，建立一元线性回归模型，评估模型的拟合优度； 从所述能量输入特征中提取作用时长分布规律的时长均值，以能量平均值和时长均值为双自变量，深度偏差值为因变量，建立多元线性回归模型，评估模型的解释能力； 比较一元回归和多元回归的拟合效果，确定作用时长对深度偏差的额外影响； 从所述能量输入特征中提取能量密度空间分布图的中心区域能量密度值，分析该区域对应的盲孔深度偏差值与边缘区域的差异，得到能量密度分布对深度一致性的影响方向； 整合所述拟合优度、所述额外影响及所述影响方向，得到能量输入特征的深度作用系数集合。

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