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龙图腾网获悉南京青析技术有限公司申请的专利一种伪装材料的光学性能检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120404611B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510537157.6，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种伪装材料的光学性能检测系统及方法是由张宇哲;李雨欣;陈源设计研发完成，并于2025-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种伪装材料的光学性能检测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种伪装材料的光学性能检测系统及方法，涉及伪装材料检测技术领域，包括结构识别与照明控制模块，用于采集伪装材料样品的表面图像，识别样品表面结构，启动全光谱光源，模拟从弱光到强光的逐级照明，基于标准照度进行RGB成像；区域划分模块，用于对图像应用超像素分割算法，自动划分子区域，对每一区域进行高光谱反射率扫描，同步采集偏振方向光强图像，计算Stokes矢量并构建偏振增强图像。本发明不仅可实现对微观干涉条纹的频域量化分析、偏振异常区域的精确掩膜提取，还通过多角度反射采样与评分函数建模，有效量化伪装材料在复杂光照和视角条件下的光学暴露风险，显著提升了检测精度、区域针对性与自动化水平。

本发明授权一种伪装材料的光学性能检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种伪装材料的光学性能检测系统，其特征在于：包括， 结构识别与照明控制模块，用于采集伪装材料样品的表面图像，识别样品表面结构，启动全光谱光源，模拟从弱光到强光的逐级照明，基于标准照度进行RGB成像，包括： 采集样品表面高分辨率灰度图像，对图像进行二维快速傅里叶变换，得到频谱图，计算频谱幅值图并归一化后提取频谱中幅值最大方向所对应的主频； 若主频大于预设阈值U，则进一步评估主频的能量占比，若主频能量占比大于预设阈值u，则认为该区域具备人工结构色干涉可能性； 启动可控全光谱LED面阵光源，设定光照强度为五个固定等级，包括I1~I5； 在每一级照度，分别采集材料样品表面的反射光谱曲线并基于收集的数据计算归一化反射率Rλj,Ii，对第i照度下的所有波长反射率Rλ,Ii，计算其均值和该照度下的反射率标准差，将五组标准差结果进行对比，选择最小者对应的照度等级编号，作为标准照度，基于确定的标准照度，启动工业相机系统进行样品图像采集，得到三通道RGB图像； 区域划分模块，用于对图像应用超像素分割算法，自动划分子区域，对每一区域进行高光谱反射率扫描，同步采集偏振方向光强图像，计算Stokes矢量并构建偏振增强图像，包括： 根据标准sRGB伽马反向校正对每个像素的每个分量单独处理得到光强线性化后的RGB图像矩阵； 对每个像素，将线性R、G、B值转换为X、Y、Z三个通道值，对每个像素点的XYZ分量进行归一化，定义感知映射函数fp建立颜色-亮度非线性响应，计算每个像素点Lab通道值，输出Lab空间三通道矩阵； 根据预设的区域数量K计算聚类窗口间距S，为图像中的每一个像素x,y构建其二维空间坐标矩阵； 对于图像中每一个像素点x,y，构建SLIC聚类所需的五维联合特征向量； 将所有像素点的特征组合为五维张量结构； 基于S，在图像上均匀网格化初始化K个聚类中心点，对每个聚类中心，计算当前像素与中心的复合距离，将像素x,y分配至距离最小的聚类中心编号，对每个区域重新计算其五维特征均值作为新中心，计算旧中心与新中心之间的移动距离m，若所有m小于预设阈值β，则停止聚类，得到最终像素分配掩膜矩阵，对每一个编号i所对应的区域，执行8邻域连通分析； 使用轮廓追踪算法提取主连通块的封闭边界点集并保存为区域矢量掩膜后计算区域重心坐标； 提取每个子区域的重心坐标并设为目标采样点，对每个子区域进行逐像素扫描得到二维光谱矩阵，启动DoFP型偏振相机输出四个偏振方向图像，对每一个像素点x,y计算Stokes矢量分量； 结合得到的Stokes矢量分量计算该区域的偏振增强图像； 区域掩膜生成模块，用于对偏振反射强度图应用Otsu算法进行自适应分割，运用形态学腐蚀与膨胀操作修正边界，生成目标偏振反射显著区域掩膜IEx,y，包括： 遍历整幅偏振反射强度图并进行归一化得到归一化后的图像像素值； 对于每个图像行的整行像素执行差分计算； 对整幅图执行标准Sobel算子，获得横向梯度图和纵向梯度图并计算图像局部边缘结构强度，构建像素能量函数，融合亮度变化与边缘抑制信息计算像素级能量项Ex,y，将所有像素的能量按行累加得到行能量集成，搜索最大能量行y1作为结构边界将图像划分为上下两个子图，若第y行像素小于y1，则为上半图像，否则为下半图像； 对归一化图像进行中值滤波，得到中值图Mx,y，对中值图进行均值滤波，得到局部平均图Gx,y，基于Mx,y和Gx,y构造每个像素x,y的联合灰度对i,j，根据所属区域将灰度对分配给上下半图像，分别统计两个区域中所有i,j的频数，形成联合灰度直方图； 定义联合灰度阈值组合s,t，在每个直方图中，将i,j按s,t分为4个区域； 计算联合灰度直方图中，属于区域k的所有灰度对i,j在整幅图像中出现的相对频率之和，以中值滤波图Mx,y的灰度值作为主变量，分别计算每个区域的联合灰度均值和总体均值，根据二维Otsu定义，计算类间差异的综合评分指标，对于每一个s,t，计算联合灰度直方图的上下半图像各自的类间方差迹值，将两个迹值相乘，得到联合评分函数； 遍历所有评分结果，找出评分最高的阈值组合； 在上下子图中，分别遍历每个像素x,y，构建上半子图和下半子图掩膜，将上下区域掩膜合并为全图掩膜； 对掩膜图进行连通区域标记，去除面积小于预设阈值的区域，对剔除后的掩膜图执行形态学闭运算和开运算得到最终的偏振显著区域掩膜图； 干涉评分模块，用于选取IEx,y范围内的高光谱反射曲线，采用快速傅里叶变换检测周期性条纹波动并计算干涉评分Iri； 多角度BRDF测量模块，用于改变样品观测角度，对掩膜区域进行多角度光谱采集，建立BRDF响应函数，计算方向性偏差∆Ri； 评分模块，用于基于强度指标Iri和方向性偏差∆Ri进行伪装性能综合评分，根据伪装性能评分生成二维热力图，展示伪装暴露风险等级并自动生成检测报告。

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