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龙图腾网获悉中国地质调查局天津地质调查中心(华北地质科技创新中心);广东省地质实验测试中心(广东省矿产应用研究所)申请的专利一种基于手持式X荧光光谱仪测定样品中钽含量的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120314350B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510579452.8，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种基于手持式X荧光光谱仪测定样品中钽含量的方法是由王家松;张国利;武明丽;李展强;彭丽娜;王娜;王力强;李国占设计研发完成，并于2025-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于手持式X荧光光谱仪测定样品中钽含量的方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于手持式X荧光光谱仪测定样品中钽含量的方法，可快速、准确的测定岩矿样品中的钽含量，整个测定过程无需复杂的化学前处理。包括测试多组含Ga标准物质中的Ta表观含量，以获取Ga对Ta的干扰系数；测试多组含Ta标准物质中Ta的表观含量和Ga含量，并根据标准物质的Ga标准值和Ga对Ta的干扰系数得到扣除干扰的Ta表观含量，然后与Ta标准值进行拟合获得Ta校正方程；测试多组含Al标准物质中Al表观含量，并与Al标准值进行拟合以获得Al校正方程，并将斜率和截距录入测量仪器；测试试样中Al含量和Ta表观含量，基于工作区相同岩性样品GaAl比计算试样的Ga含量，再根据Ga对Ta的干扰系数得到扣除干扰的Ta表观含量，最后根据Ta校正方程计算Ta含量。

本发明授权一种基于手持式X荧光光谱仪测定样品中钽含量的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于手持式X荧光光谱仪测定岩矿石样品中钽含量的方法，其特征在于，包括如下步骤： S1:多次测试含Ga标准物质中的Ta表观含量以获取均值，将测定的Ta表观含量均值与Ga标准值相除得到Ga对Ta的干扰系数； S2:多次测试含Ta标准物质中Ta的表观含量以获取均值，并根据Ga标准值和Ga对Ta的干扰系数得到扣除干扰的Ta表观含量均值，然后将其与Ta标准值进行拟合获得Ta校正方程； S3:多次测试含Al标准物质中Al表观含量，将测定的Al表观含量均值与Al标准值进行线性拟合以获得Al校正方程，并将Al校正方程的斜率和截距录入测试仪器-手持式X荧光光谱仪； S4:测试试样中Al含量和Ta表观含量，基于工作区相同岩性样品GaAl比计算试样的Ga含量，再根据Ga对Ta的干扰系数得到扣除干扰的Ta表观含量，最后将Ta表观含量带入Ta校正方程计算Ta含量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国地质调查局天津地质调查中心(华北地质科技创新中心);广东省地质实验测试中心(广东省矿产应用研究所)，其通讯地址为：300170 天津市河东区大直沽八号路4号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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