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长春理工大学付强获国家专利权

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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120213224B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510694983.1,技术领域涉及:G01J3/28;该发明授权一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置及方法是由付强;李明轩;刘轩玮;顾宪松;朱瑞;才华;史浩东;张景瑞;李英超设计研发完成,并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置及方法在说明书摘要公布了:本申请公开了一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置及方法,涉及光学探测领域,装置包括:双偏振调制成像系统和分析系统;双偏振调制成像系统设置在被测目标所在的光路上,双偏振调制成像系统与分析系统连接;双偏振调制成像系统用于获取从不同探测角度下接收被测目标的待调制光线,对不同探测角度下的被测目标的待调制光线进行两次旋转偏振滤光,并获取不同探测角度下的待分析数据;分析系统用于对不同探测角度下的待分析数据分析筛选,得到目标图像;本申请通过双偏振调制成像系统实现了对强光的有效抑制,通过分析系统对不同探测角度下的双偏振滤光后的图像的分析筛选,得到高质量的目标图像,提高了探测结果的准确性和可靠性。

本发明授权一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置及方法在权利要求书中公布了:1.一种基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置,所述基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置设置在强光环境下的被测目标的待调制光线所在的光路上,所述强光至少包括相干光和非相干光中任一者,其特征在于,所述基于双偏振调制的抗强光偏振探测分析装置包括:双偏振调制成像系统和分析系统; 所述双偏振调制成像系统设置在所述被测目标所在的光路上,所述双偏振调制成像系统与所述分析系统连接;所述双偏振调制成像系统包括:中空旋转平台、LED主动照明单元和双偏振图像采集单元;所述LED主动照明单元设置于所述中空旋转平台的内侧旋转平台上;所述双偏振图像采集单元设置于所述中空旋转平台的外侧旋转平台上;所述双偏振图像采集单元与所述分析系统连接;所述中空旋转平台用于分别对所述LED主动照明单元和所述双偏振图像采集单元进行角度偏转;所述中空旋转平台具体包括:内侧旋转平台、外侧旋转平台和底座控制平台;所述内侧旋转平台嵌套设置在所述底座控制平台上;所述外侧旋转平台嵌套设置在所述内侧旋转平台的外表面;所述底座控制平台用于带动所述内侧旋转平台和所述外侧旋转平台按预设角度转动;所述内侧旋转平台能够根据分析系统的控制指令实现任意角度旋转,使装置在不同角度通过所述LED主动照明单元主动照明下成像;所述外侧旋转平台能够根据所述分析系统的控制指令在任意角度下旋转,使装置在不同探测方位角下成像; 所述双偏振调制成像系统用于获取从不同探测角度下接收所述被测目标的待调制光线,对不同探测角度下的所述被测目标的待调制光线进行两次旋转偏振滤光,并获取不同探测角度下的待分析数据;所述分析系统用于对不同探测角度下的待分析数据分析筛选,得到目标图像;所述待分析数据包括:所述被测目标的待调制光线的强度、双偏振滤光后的待调制光线的强度、第一次偏振滤光的角度、第二次偏振滤光的角度以及双偏振滤光后的图像; 在实验环境下,采取模拟强光的方式对所述双偏振调制成像系统和所述分析系统进行校对,模拟强光的系统为强光场景模拟系统;所述强光场景模拟系统设置于被测目标和双偏振调制成像系统的同一光路上;所述强光场景模拟系统包括:强激光单元和积分球单元;所述强激光单元和所述积分球单元均设置于被测目标和所述双偏振调制成像系统的同一光路上;所述强激光单元用于向被测目标发射相干光,所述积分球单元用于向被测目标发射非相干光;所述强激光单元和所述积分球单元根据需求随时切换,始终保持主光线照射在被测目标上; 目标图像的确定方法包括:计算每个探测角度下的双偏振滤光后的图像的对比度和标准差;根据每个探测角度下的所述被测目标的待调制光线的强度,和,每个探测角度下的双偏振滤光后的待调制光线的强度,计算每个探测角度下的消光率;根据每个探测角度下的第一次偏振滤光的角度、每个探测角度下的第二次偏振滤光的角度以及每个探测角度下的双偏振滤光后的图像利用P-G模型计算每个探测角度下的双偏振滤光后的图像的信噪比;基于对比度、标准差、消光率和信噪比,对所有探测角度下的双偏振滤光后的图像进行筛选,得到目标图像; 根据每个探测角度下的第一次偏振滤光的角度、每个探测角度下的第二次偏振滤光的角度以及每个探测角度下的双偏振滤光后的图像利用P-G模型计算每个探测角度下的双偏振滤光后的图像的信噪比,具体包括: 根据每个探测角度下的第一次偏振滤光的角度、每个探测角度下的第二次偏振滤光的角度进行背景强度计算; 根据每个探测角度下的第一次偏振滤光的角度、每个探测角度下的第二次偏振滤光的角度以及每个探测角度下的双偏振滤光后的图像对双偏振滤光后的图像进行采用P-G模型进行目标强度计算; 基于目标强度和背景强度计算得到每个双偏振滤光后的图像的信噪比; 所述目标强度的计算公式如下: ; 其中,为目标强度;为镜面反射的穆勒矩阵;为入射角;为反射角;为镜面反射分量;分为偏振光漫反射分量;为被测目标单元表面粗糙度常数;为LED主动照明单元的强度;R为探测器口径;为微面元法线与粗糙表面宏观法线之间的夹角;G为阴影与遮挡函数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人长春理工大学,其通讯地址为:130012 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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