中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))胡湘洪获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利无测试向量集成电路产品测试方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115267492B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210827505.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权无测试向量集成电路产品测试方法、装置和计算机设备是由胡湘洪;罗军;李军求;唐锐;罗道军设计研发完成，并于2022-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本无测试向量集成电路产品测试方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试。
本发明授权无测试向量集成电路产品测试方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种无测试向量集成电路产品测试方法，其特征在于，所述方法应用于ATE测试系统，所述ATE测试系统包括ATE测试板，所述ATE测试板包括存储模块；所述方法包括： 针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取所述目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于所述存储模块中； 确定所述目标集成电路产品的当前待测测试项目； 判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果； 根据所述测试结果，确定所述当前待测测试项目是否通过测试。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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