深圳英集芯科技股份有限公司郑文杰获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳英集芯科技股份有限公司申请的专利一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115718248B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111401031.4,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片是由郑文杰设计研发完成,并于2021-08-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片在说明书摘要公布了:本申请实施例公开芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片。芯片测试与引脚复用单元,应用于芯片,芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元,芯片功能单元和引脚一一对应;芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试模块、引脚复用模块、M个第一开关模块和M个第二开关模块,M的取值为大于1的整数,N的取值为M的取值的2倍,从而通过复用芯片已有芯片功能单元所对应引脚以实现芯片测试,无需额外为芯片测试新增独立的引脚,从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚,进而有利于减小芯片的体积,以及降低芯片在设计、集成和封装上的成本。
本发明授权一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试与引脚复用单元,其特征在于, 应用于芯片,所述芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和所述芯片测试与引脚复用单元,所述芯片功能单元和所述引脚一一对应;所述芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试电路、引脚复用电路、M个第一开关电路和M个第二开关电路,M的取值为大于1的整数; 所述芯片测试电路通过M个所述第一开关电路和所述引脚复用电路连接M个所述引脚; 所述芯片功能单元各自通过一个所述第二开关电路和所述引脚复用电路连接所述芯片功能单元所对应的一个所述引脚; 所述引脚复用电路分别连接M个所述引脚、M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路; 所述芯片测试电路,用于通过复用M个所述芯片功能单元各自所对应的所述引脚以对所述芯片进行芯片测试; 所述芯片功能单元,用于执行所述芯片功能单元所具备的芯片功能; 所述引脚复用电路,用于通过控制M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路以使得所述芯片测试电路复用M个所述芯片功能单元各自所对应的所述引脚;其中,引脚复用电路能够控制M个第一开关电路和M个第二开关电路的通断状态。
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