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龙图腾网获悉上海利扬创芯片测试有限公司申请的专利一种防止MAP偏移误差的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114545205B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210165656.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种防止MAP偏移误差的方法是由陈聪;张钦祥;李宗仁设计研发完成，并于2022-02-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种防止MAP偏移误差的方法在说明书摘要公布了：本发明揭示了一种防止MAP偏移误差的方法，包括如下步骤：S100、对MES系统的CP设定里的BIN设定中的OPEN和SHORT项，预先设定：与BIN项对应的OPEN、SHORT项的标记设定；S200、所述标记设定审核提交后，对于MES系统的测试结果，自动统计测试结果外圈中OPEN、SHORT项，并确定所述OPEN、SHORT项对应的实际BIN项值；S300、根据统计的所述测试结果外圈中OPEN、SHORT项、实际BIN项值，以及预先设定的所述标记设定，进行OPEN和SHORT项的设定管控，以防止MAP偏移误差。本发明仅在外圈范围内进行统计以防止MAP偏移误差。

本发明授权一种防止MAP偏移误差的方法在权利要求书中公布了：1.一种防止MAP偏移误差的方法，所述方法包括如下步骤： S100、对MES系统的CP设定里的BIN设定中的OPEN和SHORT项，预先设定：与BIN项对应的OPEN、SHORT项的标记设定； S200、所述标记设定审核提交后，对于MES系统的测试结果，自动统计测试结果外圈中OPEN、SHORT项，并确定所述OPEN、SHORT项对应的实际BIN项值； S300、根据统计的所述测试结果外圈中OPEN、SHORT项、实际BIN项值，以及预先设定的所述标记设定，进行OPEN和SHORT项的设定管控，以防止MAP偏移误差； 步骤S200中，仅统计外圈一圈中OPEN、SHORT项；充分利用MAPSHIFT属于针对测试边缘的异常情形；测试结果通过外圈一圈中的有关OS项即OPEN和SHORT项进行统计比例的计算，MES系统通过BIN设定中的OS设定判定，以及进一步根据OS项对应什么BIN值，进行OS设定管控，从而实现防止MAPSHIFT的情况； 步骤S300中，进行OPEN和SHORT项的设定管控时，即实施管控标准的设定，包括设定： 项目公式、运算公式、基准值、单片Hold、整批Hold、生成QDN、累加统计、激活功能； 其中， 步骤S100中，所述BIN项包括映射软件和硬件BIN，即SBIN和HBIN； 所述BIN项包括BinName项，为字符类型； 所述BIN项包括BinChar项，为数值类型； 所述BIN项包括RawChar项，为数值类型； 所述BIN项包括InkChar项，为字符类型。

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