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龙图腾网获悉深圳芯欣半导体有限公司申请的专利一种提高芯片良品率的自动化检测设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224095962U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520714883.6，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种提高芯片良品率的自动化检测设备是由崔进设计研发完成，并于2025-04-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提高芯片良品率的自动化检测设备在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种提高芯片良品率的自动化检测设备，包括调节组件，所述调节组件包括检测台、支撑架、第一滑块、第一安装孔和检测组件。本实用新型通过调节组件和检测组件的配合，实现检测头自动化的三维精准移动定位，能迅速对芯片检测，极大缩短检测时长，同时，检测台多个安装槽可同时放置多个芯片限位座，实现多芯片依次检测，进一步提高批量检测效率；通过检测头底部的视觉检测模块和电气性能检测模块协同工作对芯片进行检测，能更全面准确判断芯片良品率，从而有效降低漏检、误检情况；通过针对不同规格芯片，可轻松拆卸更换对应芯片放置槽尺寸的芯片限位座，从而适应多种芯片限位需求，使设备能应对多种芯片检测，提升通用性。

本实用新型一种提高芯片良品率的自动化检测设备在权利要求书中公布了：1.一种提高芯片良品率的自动化检测设备，其特征在于：包括调节组件1，所述调节组件1包括检测台11、支撑架12、滑槽13、第一滑块14、第一安装孔15、第一双向同步电机16、第一输出轴17、第一齿轮18、第一通槽19、第一齿板20、连接板21、安装框22、第二滑块23、第二安装孔24、第二双向同步电机25、第二输出轴26、第二齿轮27、第二通槽28、第二齿板29和检测组件3； 所述检测台11的上表面两侧中心处固定连接有支撑架12，所述支撑架12的上表面中部开设有滑槽13，所述滑槽13的内侧壁滑动连接有第一滑块14，所述第一滑块14的前表面中心处开设有第一安装孔15，所述第一安装孔15的内侧壁固定连接有第一双向同步电机16，所述第一双向同步电机16的两个输出端均通过第一输出轴17固定连接有第一齿轮18，所述支撑架12的前表面和后表面上部均开设有第一通槽19，所述第一通槽19的内底壁设置有第一齿板20，所述第一齿轮18的外侧壁啮合连接于第一齿板20的上表面，所述第一滑块14的底部固定连接有连接板21，所述连接板21的上表面滑动连接于支撑架12的内顶壁，所述连接板21的下表面固定连接有安装框22，所述安装框22的内侧壁滑动连接有第二滑块23，所述第二滑块23的一侧中心处开设有第二安装孔24，所述第二安装孔24的内侧壁固定连接有第二双向同步电机25，所述第二双向同步电机25的两个输出端均通过第二输出轴26固定连接有第二齿轮27，所述安装框22的两侧中部均开设有第二通槽28，所述第二通槽28的内底壁设置有第二齿板29，所述第二齿轮27的外侧壁啮合连接于第二齿板29的上表面，所述第二滑块23的底部固定连接有检测组件3。

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