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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利固态硬盘的温度可靠性测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121306230B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511799319.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权固态硬盘的温度可靠性测试方法、装置、设备及存储介质是由韩宇峥;董海源;黄荣斌设计研发完成，并于2025-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本固态硬盘的温度可靠性测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及固态硬盘测试技术领域，公开了一种固态硬盘的温度可靠性测试方法、装置、设备及存储介质。该温度可靠性测试方法包括：将预配置的固态硬盘置于高低温试验箱中进行开卡操作与固件烧录，并监控烧录过程中的状态数据；在高温环境下对所述固态硬盘进行可靠性验证测试，获得第一测试数据；在高温环境下对所述固态硬盘进行内置自检测试，获得第二测试数据；在低温环境下对所述固态硬盘进行内置自检测试，获得第三测试数据；根据所述状态数据、所述第一测试数据、所述第二测试数据以及所述第三测试数据综合评估所述固态硬盘的可靠性。通过上述方式，本发明能够提高测试的全面性和准确性。

本发明授权固态硬盘的温度可靠性测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘的温度可靠性测试方法，其特征在于，包括： 将预配置的固态硬盘置于高低温试验箱中进行开卡操作与固件烧录，并监控烧录过程中的状态数据； 在高温环境下对所述固态硬盘进行可靠性验证测试，获得第一测试数据； 在高温环境下对所述固态硬盘进行内置自检测试，获得第二测试数据； 在低温环境下对所述固态硬盘进行内置自检测试，获得第三测试数据； 根据所述状态数据、所述第一测试数据、所述第二测试数据以及所述第三测试数据综合评估所述固态硬盘的可靠性； 所述将预配置的固态硬盘置于高低温试验箱中进行开卡操作与固件烧录，并监控烧录过程中的状态数据包括： 将所述固态硬盘置于高低温试验箱内，设定环境温度为68~72℃，待温度稳定后将所述固态硬盘以物理盘或逻辑盘方式接入测试主机； 运行预配置的固件更新程序对所述固态硬盘进行固件烧录，并监控烧录过程中的状态数据； 将所述固态硬盘格式化为多分区，在所述多分区分别安装不同的操作系统，并模拟不同的所述操作系统对所述固态硬盘的读写管理差异； 所述在高温环境下对所述固态硬盘进行可靠性验证测试，获得第一测试数据包括： 将所述固态硬盘以物理盘方式接入测试主机； 采用顺序读写模式对所述固态硬盘进行数据读写操作，持续时间为30分钟，输出第一测试数据；所述第一测试数据包括第一测试日志和第一系统监控数据。

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