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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121237184B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511799533.5，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法是由吴伟传;董海源;黄荣斌设计研发完成，并于2025-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法，该方法包括：获取待测固态硬盘，预处理待测固态硬盘；将预处理后的待测固态硬盘进行高温启动测试，根据测试结果评估获取待测固态硬盘的高温启动性能；将预处理后的待测固态硬盘进行低温启动测试，根据测试结果评估获取待测固态硬盘的低温启动性能；基于高温启动性能与低温启动性能设置温箱内温度循环曲线，基于所述温度循环曲线对处理后的待测固态硬盘进行高低温循环启停测试，监测并记录每次高低温循环启停测试的电流变化波形。本发明全面模拟了极端环境下的用户实际使用场景，提高了测试结果的准确性和可靠性。

本发明授权一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘的高低温智能启停测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测固态硬盘，预处理待测固态硬盘； 将预处理后的待测固态硬盘进行高温启动测试，根据测试结果评估获取待测固态硬盘的高温启动性能； 将预处理后的待测固态硬盘进行低温启动测试，根据测试结果评估获取待测固态硬盘的低温启动性能； 基于高温启动性能与低温启动性能设置温箱内温度循环曲线，基于所述温度循环曲线对处理后的待测固态硬盘进行高低温循环启停测试，监测并记录每次高低温循环启停测试的电流变化波形； 自动记录每次测试产生的测试数据，并将测试数据生成包含测试曲线、通过失败统计、趋势分析的综合性报告； 其中，所述将预处理后的待测固态硬盘进行高温启动测试，根据测试结果评估获取待测固态硬盘的高温启动性能的步骤包括： 将预处理后的待测固态硬盘置于高温测试环境，并进行高温温度曲线扩展测试，获取高温温度曲线扩展测试数据； 将预处理后的待测固态硬盘进行角色模拟与负载压力加载测试，获取角色模拟测试数据与负载压力加载测试数据； 基于高温温度曲线扩展测试数据、角色模拟测试数据以及负载压力加载测试数据评估高温启动性能并进行高温基线比对。

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