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深圳市晶存科技股份有限公司吴伟传获国家专利权

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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121237176B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511789099.2,技术领域涉及:G11C29/56;该发明授权一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法是由吴伟传;董海源;黄荣斌设计研发完成,并于2025-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。

一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法在说明书摘要公布了:本发明涉及数据存储技术领域,公开了一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法,该方法包括:获取待测试固态硬盘的配置信息并记录SMART数据基线;初始化固态硬盘,并在初始化后固态硬盘的空盘状态下,进行稳态预处理并记录此时的性能数据作为空盘基准;通过顺序或随机写入方式,将固态硬盘的脏盘比例填充至目标值,在所述脏盘比例下,施加对应的动态负载模型,并持续进行性能采样、记录性能数据,生成性能衰减曲线;在运行固态硬盘性能基准测试的同时,在后台启动CPU压力测试、内存带宽测试和GPU负载测试。本发明实现了在AMD和Intel两大主流平台上进行交叉测试,能够系统地评估SSD在不同系统环境下的性能兼容性。

本发明授权一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法在权利要求书中公布了:1.一种固态硬盘的多平台脏盘性能一致性测试方法,其特征在于,所述方法包括: 获取待测试固态硬盘的配置信息并记录SMART数据基线; 在原有AMDIntel平台基础上,增加ARM平台和新一代平台,执行全盘顺序写入和安全擦除,确保固态硬盘处于初始化阶段且每次测试起点绝对一致,并在初始化后固态硬盘的空盘状态下,进行稳态预处理并记录此时的性能数据作为空盘基准; 通过顺序或随机写入方式,将固态硬盘的脏盘比例填充至目标值,在所述脏盘比例下,施加对应的动态负载模型,并持续进行性能采样、记录性能数据,生成性能衰减曲线; 在运行固态硬盘性能基准测试的同时,在后台启动CPU压力测试、内存带宽测试和GPU负载测试,评估固态硬盘对系统资源竞争的耐受性,判断固态硬盘的性能数据的一致性; 使用机器学习算法,基于性能衰减曲线和SMART数据的变化建立模型,并根据模型预测固态硬盘在长期使用后的性能表现;具体包括:对采集的性能数据进行归一化处理; 基于不同应用场景的敏感性为每个性能指标设置权重; 基于权重计算综合性能一致性指数; 使用机器学习算法,基于性能衰减曲线、SMART数据中的平均擦写次数以及坏块增长数量作为输入特征,预测固态硬盘在长期使用下的性能衰减趋势; 测试完成后的固态硬盘,自动生成包含所有测试数据、曲线、图表、一致性指数以及可视化数字画像的详细PDF报告。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市晶存科技股份有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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