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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利一种变环境温度的红外测量标定方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115507961B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211305555.8，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权一种变环境温度的红外测量标定方法和装置是由李晓平;杨文佳;石春雷;孙峥设计研发完成，并于2022-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种变环境温度的红外测量标定方法和装置在说明书摘要公布了：本发明涉及红外测量技术领域，特别涉及一种变环境温度的红外测量标定方法和装置。一种变环境温度的红外测量标定方法，包括：在恒温箱中放置黑体，将所述黑体的辐射面充满红外测量系统的视场；不同所述恒温箱温度、不同所述黑体温度下，采集所述红外测量系统每个像元对所述恒温箱和所述黑体的响应数据；其中，每个所述恒温箱的温度下，均有多个所述黑体温度；根据所述恒温箱的温度、所述黑体的温度和所述响应数据建立响应矩阵；根据所述响应矩阵计算标定系数；根据所述标定系数计算变环境温度下待测目标的温度和亮度。本发明实施例提供了一种变环境温度的红外测量标定方法和装置，能够在环境温度变化的情况下，准确测量出目标物体的温度和亮度。

本发明授权一种变环境温度的红外测量标定方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种变环境温度的红外测量标定方法，其特征在于，包括： 在恒温箱中放置黑体，将所述黑体的辐射面充满红外测量系统的视场； 不同所述恒温箱温度、不同所述黑体温度下，采集所述红外测量系统每个像元对所述恒温箱和所述黑体的响应数据；其中，每个所述恒温箱的温度下，均有多个所述黑体温度； 根据所述恒温箱的温度、所述黑体的温度和所述响应数据建立响应矩阵； 根据所述响应矩阵计算标定系数； 根据所述标定系数计算变环境温度下待测目标的温度和亮度； 所述不同所述恒温箱温度、不同所述黑体温度下，采集所述红外测量系统每个像元对所述恒温箱和所述黑体的响应数据，包括： 控制所述恒温箱温度为恒温温度，采集不同所述黑体的温度下，所述红外测量系统每个像元对所述恒温箱和所述黑体的响应数据；其中，多个所述黑体温度的值呈等差数列连续分布； 至少进行一次如下步骤，改变所述恒温箱的所述恒温温度，采集不同所述黑体的温度下，所述红外测量系统每个像元对所述恒温箱和所述黑体的响应数据；其中，多个所述黑体温度和多个所述恒温温度的值呈等差数列连续分布； 所述根据所述恒温箱的温度、所述黑体的温度和所述响应数据建立响应矩阵，包括： 根据所述恒温箱的温度、所述黑体的温度建立参数矩阵； 根据所述响应数据和所述参数矩阵建立响应矩阵； 所述响应数据为： 其中，h为所述响应数据，i为像元在图像中的横坐标，j为像元在图像中的纵坐标，TBM为所述恒温箱的温度，M为所述恒温温度的数量，TTN为所述黑体的温度，N为每个所述恒温温度下，所述黑体温度的数量； 所述参数矩阵为： 其中，L为所述参数矩阵，TBM为所述恒温箱的温度，M为所述恒温温度的数量，TTN为所述黑体的温度，N为每个所述恒温温度下，所述黑体温度的数量，LTTM为M个所述恒温温度下的辐射亮度，LTTN为N个所述黑体温度下的辐射亮度； 和的辐射亮度由普朗克公式计算获得：和，其中为波长，和为探测光谱范围的下截止波长和上截止波长，C1=37415为第一辐射常数和C2=14388为第二辐射常数； 所述响应矩阵为： 其中，H为所述响应矩阵，i为像元在图像中的横坐标，j为像元在图像中的纵坐标，TBM为所述恒温箱的温度，M为所述恒温温度的数量，TTN为所述黑体的温度，N为每个所述恒温温度下，所述黑体温度的数量； 所述根据所述响应矩阵计算标定系数，包括： 其中，X为标定系数，a为第一标定系数，b为第二标定系数，c为第三标定系数，H为所述响应矩阵，i为像元在图像中的横坐标，j为像元在图像中的纵坐标，L为所述参数矩阵。

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