买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利基于光子数分辨探测器的测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115468662B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211058589.1，技术领域涉及：G01J11/00；该发明授权基于光子数分辨探测器的测量装置及方法是由甘海勇;刘想靓;傅杨挺;徐楠设计研发完成，并于2022-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光子数分辨探测器的测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于光子数分辨探测器的测量装置及方法，基于光子数分辨探测器的测量装置包括样品座、相干光源和光子数分辨探测器，样品座被配置为能够接收样品，还被配置为能够容置样品进行化学反应、调节样品的温度以及调节样品的机械和运动状态；相干光源被配置为能够向样品座上的样品发射入射光；光子数分辨探测器被配置为能够测量经过样品座上的样品的透射光、反射光及散射光的数据并进行统计、分析，以得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性。本发明的基于光子数分辨探测器的测量装置及方法，利用光子数分辨探测器实现对样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态的测量，使得光子数分辨探测器的应用领域范围得到扩展。

本发明授权基于光子数分辨探测器的测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光子数分辨探测器的测量方法，包括样品座、相干光源、样品台和温度调节模块其特征在于，包括以下步骤： 将样品安置于样品座上，执行控制样品进行化学反应、调节样品温度、调节样品的机械和运动状态中的一种或多种操作； 控制相干光源向所述样品座上的所述样品发射入射光； 获取光子数分辨探测器测量的经过所述样品的透射光、反射光及散射光的数据并进行统计、分析，获得所述透射光、反射光及散射光的光子统计特性； 对获得的所述透射光、反射光及散射光的光子统计特性进行分析，获得所述样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系中的一种或多种； 所述样品座包括样品台和温度调节模块，所述样品台被配置为能够安置所述样品，所述温度调节模块设置于所述样品台，所述温度调节模块被配置为能够调节所述样品台上的所述样品的温度； 所述光子数分辨探测器为超导相变边沿传感器、超导纳米线阵列、微波动态电感探测器、时分复用光子数分辨探测器、频分复用光子数分辨探测器、差分探测光子数分辨探测器、空间阵列光子数分辨探测器中的任一种； 所述温度调节模块被配置为能够向所述样品台上的所述样品施加电流、电压、声场、磁场及电磁波中的一种或多种，以调节所述样品的温度； 所述样品座还包括运动机构，所述运动机构与所述样品台连接，所述运动机构被配置为能够驱动所述样品台进行振动、转动、平移运动中的至少一种运动； 所述样品座还包括加载机构，所述加载机构设置于所述样品台上，所述加载机构被配置为能够对所述样品台上的所述样品进行挤压和或拉伸的加载操作； 相干光源和光子数分辨探测器均被配置为能够相对于样品座移动，以调整相干光源和光子数分辨探测器与样品座的相对位置； 通过调整相干光源和光子数分辨探测器与样品座的相对位置，能够调节相干光源发射的入射光在样品上的入射角度和入射位置，以及调节光子数分辨探测器接收经过样品的透射光、反射光及散射光的接收位置和接收角度，有利于调整相干光源和光子数分辨探测器至测量精度最高的最佳位置，能够适用于各种类型样品的测量； 样品座包括样品台和温度调节模块，样品台被配置为能够安置样品，温度调节模块设置于样品台，温度调节模块被配置为能够调节样品台上的样品的温度； 样品台用于安装、放置或收容样品，通过设置温度调节模块，实现调节样品温度的功能，配合相干光源和光子数分辨探测器实现测量不同温度条件下经过样品的透射光、反射光、散射光的数据并进行统计、分析； 温度调节模块包括电加热器件、声波加热器件、电磁波加热器件中的至少一种，温度调节模块通过电加热、声波加热、电磁波加热这些方式，实现对样品温度的调节； 温度调节模块可以通过热交换的方式对样品的温度进行调节； 温度调节模块被配置为能够向样品台上的样品施加电流、电压、声场、磁场及电磁波中的一种或多种，以调节样品的温度； 样品的温度对于电流、电压、声场、磁场或者电磁波这些外部条件敏感，通过温度调节模块向样品施加电流、电压、声场、磁场及电磁波中的一种或多种，实现直接调节样品的温度；当已知样品的温度与电流、电压、声场、磁场或者电磁波这些外部条件的对应关系，并且已知样品的温度与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系时，将样品放置在样品座上，相干光源发射的入射光照射到样品上，利用光子数分辨探测器测量经过样品的透射光、反射光、散射光的数据并进行统计、分析，得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，然后根据上述已知的对应关系，来得到该样品当前的温度，并进一步得到改变样品温度的电流、电压、声场、磁场、电磁波这些外部条件的强度；当样品的温度与电流、电压、声场、磁场或者电磁波这些外部条件的对应关系未知，和或样品的温度与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系未知时，将样品放置在样品座上，并调节施加在样品上的电流、电压、声场、磁场、电磁波这些外部条件的强度，相干光源发射的入射光照射到样品上，利用光子数分辨探测器测量不同外部强度条件下经过样品的透射光、反射光、散射光的数据并进行统计、分析，得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，从而得到样品的温度与电流、电压、声场、磁场或者电磁波这些外部条件的对应关系，以及样品的温度与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系； 样品座还包括运动机构，运动机构与样品台连接，运动机构被配置为能够驱动样品台进行振动、转动、平移运动中的至少一种运动； 样品的透过率、反射比、散射比、折射率这些光学特性参数对于振动、转动这些运动状态敏感；通过设置运动机构，驱动样品台进行振动、转动、平移运动中的至少一种，样品放置在样品台上，样品台带动样品同步进行振动、转动或平移运动，使样品的透过率、反射比、散射比、折射率这些光学特性参数可变；当样品的振动、转动、平移运动这些运动状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系未知时，将样品放置在样品座上，并通过运动机构调节样品的振动、转动、平移运动这些运动状态，相干光源发射的入射光照射到样品上，利用光子数分辨探测器测量不同运动状态下经过样品的透射光、反射光及散射光的数据并进行统计、分析，得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，进而得到样品的振动、转动、平移运动这些运动状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系； 样品座还包括加载机构，加载机构设置于样品台上，加载机构被配置为能够对样品台上的样品进行挤压和或拉伸的加载操作； 样品的透过率、反射比、散射比、折射率这些光学特性参数对于挤压、拉伸这些机械状态敏感；通过设置加载机构，对样品进行挤压和或拉伸的加载操作，实现对样品的机械状态的调节功能，使样品的透过率、反射比、散射比、折射率的光学特性参数可变；当样品的挤压、拉伸的机械状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系未知时，将样品放置在样品台上，并通过加载机构调节样品的挤压、拉伸的机械状态，相干光源发射的入射光照射到样品上，利用光子数分辨探测器测量不同机械状态下经过样品的透射光、反射光及散射光的数据并进行统计、分析，得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，进而得到样品的挤压、拉伸的机械状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系； 基于光子数分辨探测器的测量装置还包括控制器，控制器与光子数分辨探测器、相干光源和样品座连接，控制器用于控制样品座和相干光源的工作运行及空间位置，以及用于获取光子数分辨探测器测量的数据并进行统计、分析，以得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，并进一步对透射光、反射光及散射光的光子统计特性进行分析； 根据实际样品的测量条件需求，控制器控制样品座和相干光源的运行，控制样品座运动以调节样品的机械和运动状态，或者控制样品座调节样品的温度，或者控制相干光源以设定功率发射入射光；通过控制器控制样品座和相干光源的运行，可以实现不同温度、不同机械和运动状态、不同化学成分和反应过程的条件下的测量；同时控制器获取光子数分辨探测器测量的数据并进行统计、分析，得到透射光、反射光及散射光的光子统计特性，通过对透射光、反射光及散射光的光子统计特性进行分析，可以得到样品当前的温度、机械和运动状态、化学成分和反应过程，实现基于光子数分辨探测器的样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态的测量，或者得到样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系，实现基于光子数分辨探测器的样品的化学成分和反应过程、温度、机械和运动状态与透射光、反射光及散射光的光子统计特性的对应关系的测量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国计量科学研究院，其通讯地址为：100029 北京市朝阳区北三环东路18号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。