长鑫存储技术有限公司仰蕾获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利晶圆分类方法及装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115221965B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210861540.3，技术领域涉及：G06F18/241；该发明授权晶圆分类方法及装置、电子设备和存储介质是由仰蕾;丁赛赛设计研发完成，并于2022-07-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶圆分类方法及装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本公开是关于一种晶圆分类方法及装置、电子设备以及计算机可读存储介质，涉及半导体生产与制造技术领域，可以应用于对晶圆进行分类的场景。该方法包括：获取待分类晶圆的关联信息；关联信息包括待分类晶圆的修补电路信息以及历史基准晶圆对应的历史基准晶圆信息；基于修补电路信息与历史基准晶圆信息，对待分类晶圆逐个与历史基准晶圆进行对比，得到当前晶圆类别；当前晶圆类别包括当前基准晶圆与当前异常晶圆。本公开可以根据晶圆的修补电路信息对晶圆进行快速分类，以提供失效晶圆的后续问题追踪。
本发明授权晶圆分类方法及装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种晶圆分类方法，其特征在于，包括： 获取待分类晶圆的关联信息；所述关联信息包括待分类晶圆的修补电路信息以及历史基准晶圆对应的历史基准晶圆信息； 基于所述修补电路信息与所述历史基准晶圆信息，对所述待分类晶圆逐个与所述历史基准晶圆进行对比，得到当前晶圆类别；所述当前晶圆类别包括当前基准晶圆与当前异常晶圆； 其中，在所述获取待分类晶圆的关联信息之前，所述方法还包括： 获取历史晶圆，确定所述历史晶圆对应的多个历史分区晶圆； 从多个测试模式中获取目标测试模式，确定各所述历史分区晶圆在所述目标测试模式下的修补电路数量； 根据所述修补电路数量对所述历史晶圆进行分组处理，得到历史晶圆分组结果； 根据所述历史晶圆分组结果生成所述历史基准晶圆信息。
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